時間:2023-11-17
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行 業(yè):陣列微電級腐蝕監(jiān)測
設計內(nèi)容:硬件設計、ARM設計、電路設計
設計時間:2023
產(chǎn)品簡述:陣列電極測量是指將相互絕緣的金屬絲陣列,有序緊密排列用于模擬整個金屬表面的多電極技術。通過循環(huán)掃描陣列電極表面的電位與電流分布,用于表征裸露或涂層下的金屬表面局部腐蝕分布特征和非均勻電化學溶解過程。陣列電極電化學掃描系統(tǒng)可以精確測量任一單電極的電極電位以及短路原電池電流,無需擔心外部極化可能會破壞微區(qū)腐蝕環(huán)境,因而特別適合于金屬在非擾動狀態(tài)下自發(fā)腐蝕行為研究。
設計團隊:昱櫟技術