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某芯片測試工裝

時間:2024-08-02

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某芯片測試工裝.jpg


行       業:科研

設計內容:硬件設計、PCB設計

設計時間:2022

產品簡述:通過單片機控制,實現待測芯片引腳1對N及N對N多種選通方式,通過施加不同的電壓、脈沖,獲取待測芯片不同的響應時間與結果,以網口通訊傳輸到上位機獲取測試數據,從而評判待測芯片性能。


設計團隊:昱櫟技術